产品配置
X光金属镀层测厚仪标准配置为:X射线管,正比计数器﹨半导体探测器,高清摄像头,测厚仪,高度激光,镀层分析测厚仪,信号检测电子电路。
性能指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:Ti~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
能量色散X荧光光谱仪定义及原理
X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受X射线照射后,其中各元素原子的内壳层(K,涂层测厚仪,L或M层)电子被激发逐出原子而引起电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。能散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)利用荧光X射线具有不同能量的特点,由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线。