一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示:X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名专家通力合作,荧光检测仪测厚仪,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。
波长色散型X射线荧光光谱仪的前面部分和能量色散型X射线荧光光谱仪是一样的,X光管激发样品,检测器测量来自样品的射线,但波长色散型X射线荧光光谱仪的检测器和能量色散型X射线荧光光谱仪的检测器不同。波长色散型X射线荧光光谱仪的计策系统由一套准直器,衍射晶体和探测器组成,来自样品的特征谱线照射到镜头上,晶体将不同波长(能量)的谱线衍射到不同的方向,(相当于棱镜将复合光分解成不同的单色光),将检测器放置在一定的角度,就可测量某一波长的谱线强度。将分光晶体和探测器装在测角仪上,使它在一定角度范围内转动,一次测量不同波长长谱线的强度,测厚仪,使用这种形式的光谱仪称为顺序扫描式光谱仪。安装固定检测系统的称为同时式光谱仪,荧光光谱仪测厚仪,每一套检测系统都有自己的晶体和探测器,分别测量某一特定元素的谱线,各谱线的强度同时被测量,这就很容易理解为什么称它为固定道波长色散型光谱仪,另外也有固定式和转动式结合的仪器。X射线波长色散型光谱仪一般有光源(X-射线管)、样品室
分光晶体和检测系统等组成。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪应用领域
集成电路是国民经济首要突破的行业,镀层测厚仪,中国现代制造业的发展,集成电路是基础。如果保证电路板生产的质量,电镀检测重中之重!x射线荧光膜厚测厚仪为集成电路的发展,PCB线路板加工业的质量保驾护航。价格一直是客户在购买时关心的问题,好质量和售后服务的产品在价格上面往往比较高,所以客户在选择产品时选择性价比高的就需要一定的了解,首先是品牌,其次是客户调查,售后服务等。x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试,镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚,PCB线路板的镀银厚度分析。 的详细信息x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试,镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚,PCB线路板的镀银厚度分析。
x射线荧光膜厚测厚仪已经成为电力行业,PCB行业,贵金属首饰行业的镀层分析的常规手段,比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度,也比切片法具有更快的分析效率。