X荧光光谱仪-一六仪器(在线咨询)-荧光光谱仪

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素量分析。但是由于影响荧光X射线的强度的因素较多，除待测元素的浓度外，仪器校正因子，待测元素X射线荧光强度的测定误差，元素间吸收增加效应校正，样品的物理形态（如试样的均匀性、厚度，荧光光谱仪，表面结构等）等都对定了分析结果产生影响。由于受样品的基体效应等影响较大，因此，原子荧光光谱仪，对于标注样品要求很严格，只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似，才能保证定量结果的准确性。

江苏一六仪器    X荧光光谱测厚仪

下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

  无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

  微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

  接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

  精密微型滑轨：快速精准定位样品。

  EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，先进EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，X荧光光谱仪，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，荧光光谱仪，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。