手机BGA221字库芯片测试架

用手动翻盖结构，操作灵敏。

2.座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。

3.探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。

4.理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。

5.特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。

6.探针：进口探针，铍铜镀硬金。

7.维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。

 8 .全国领先技术，为你节约更多时间，价格优惠，省下更多金钱！

9.  本公司承若，测试架终生保修 ！！！

      我司拥有大规模生产加工设备，优秀的生产研发队伍，高尚的客户服务理念。生产效率快，受到诸多客户的的良好印象好评！品质保证 ！值得信赖！

产品特性

*   探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。

*   特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。

*    更换探针可更换。

*    连接度信接口测试，配备度信测试软件速度快，精度高。适用于客户批量生产测试，

*   全国领先技术，效率高 、为你节约更多时间。

*   本公司承若，测试架终生保修 ！！！

     本公司成立于2011年，有7年的上产研发测试架的经验，拥有大规模生产加工设备，优秀的生产研发队伍，高尚的客户服务理念。生产效率快，受到诸多客户的一致好评！品质保证，值得信赖 ！！！

二;

苹果6Ｓ-ＣＰＵ（Ａ9测试架）、测试CPU好坏

phone6 苹果6CPU A9测试架   、 测试CPU好坏、 A9CPU上盖测试架

Iphone6S 、苹果6SCPU A9测试架、 A9CPU测试架 、A9CPU上盖测试架厂家直销 、质量保证！用于测试芯片的好坏！

1.座头采用手动翻盖结构，操作灵敏。

2.座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。

3.探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。

4.理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。

5.特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。

6.探针：进口探针，铍铜镀硬金。

7.维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。

8. 全国领先技术，为你节约更多时间，

9.此产品  ，终生保修！

*   采用手动翻盖结构，操作灵敏。

*   特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。

*    探针：进口探针，铍铜镀硬金

*   全国领先技术，效率高 、为你节约更多时间，

*   本公司承若，测试架终生保修 ！！！

*    测试寿命长，寿命高达10 万次以上!!！

       本公司成立于2011年，有7年的以上产研发测试架的经验，拥有大规模生产加工设备，优秀的生产研发队伍，高尚的客户服务理念。生产效率快，受到诸多客户的一致好评！品质保证，值得信赖 ！！！

6S触摸芯片测试架、 Iphone6S

6S触摸芯片测试架、 Iphone6、 苹果6CPU 测试架厂家直销 、质量保证！用于测试芯片的好坏!

产品特点及性能参数：

1、产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒

2、产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，

3、把频率衰减降到最低，减少误测；

4、有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压；

5、采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命；

6、采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB，探针板与 PCB 孔定位，保证探针与 PCB 精确定位，如有损坏用户可自行更换

7、采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高，

8、探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修

9、高精度合金 IC 定位框，保证 IC 定位精确，取放 IC 方便，从而提高测试效率；

10、测试寿命长，寿命高达10 万次以上 ！！！

11、  本公司承若，测试架终生保修 ！！！

     本公司成立于2011年，有7年的以上产研发测试架的经验，拥有大规模生产加工设备，优秀的生产研发队伍，高尚的客户服务理念。生产效率快，受到诸多客户的一致好评！品质保证，值得信赖 ！！！

*    采用手动翻盖结构，操作灵敏。

*    座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。

*    探针：进口探针，铍铜镀硬金。

*    更换探针可更换。

*    连接度信接口测试，配备度信测试软件速度快，精度高。适用于客户批量生产测试。

*    采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命。

*    采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。

*     高精度合金 IC 定位框，保证 IC 定位精确，取放 IC 方便，从而提高测试效率。

*     测试寿命长，寿命高达10 万次以上！！！

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