CJ系列高低温冲击试验箱根据试品使用的特殊性,分为两箱式动态冲击和一箱式静态冲击。可作冷热冲击试验,也可作单独高温或单独低温使用。广泛用于航空、航天、电子、IT行业等模拟试品在周围大气温度急剧变化条件下的使用性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。 技术参数:(可根据用户需求定制) 容积:约200L、500L、1000L 工作室尺寸约:(D深×W宽×H高,mm) 500×600×700(容积220L) 750×800×800(容积480L) 1000×1000×1000(容积1000L) 温度范围:-70℃~+120℃/+150℃ 冲击范围:-40℃/-55℃~+85℃/+120℃