产品详情(北京市反射率及薄膜厚度测量系统供应商厂家)
应用范围: n 薄膜太阳能电池 n 光学镀膜 n 平面显示器 n LCD and LED n 半导体及介电质 n 平滑与粗糙样品皆适用 系统特色: n 即时运算 n 量测速度小于1秒 n 薄膜厚度,反射率CIE色度量测 n 易于操作,成本效益高 n 包含可追追溯反射率标准值 n 可同时适用平滑与粗糙样品 参考规格 量测功能
| 薄膜厚度,反射率,CIE色度
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系统模式
| 反射式光源或反射式积分球(8/D,D/8Selective)
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波长范围
| 380-850nm,380-1100nm,380-1650nm or custom
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膜厚量测范围
| 300-400,000Angstrom
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解析度
| 0.5-2nm
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精确度
| 1nm
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重复性
| ±1%
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量测速度
| 少于1秒
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量测光源
| 高瓦素卤素灯源(最高可达1650nm)
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适用样品
| 光学镀膜,蓝宝石GaN,彩色滤片,太阳能电池,偏光镜等等
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系统平台
| 固定平台/x-ystage(行程100mm*100mm,150mm*150mm或客制比)/自动平台
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量测软件
| Windows Me,98,2000,XP comparable.薄膜厚度自动设计软件,反射率,表面粗糙度,色差量测软件
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选够
| 显微镜
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(北京市反射率及薄膜厚度测量系统供应商厂家)
供应反射率及薄膜厚度测量系统供应商