供应多层线路板PCT高压加速老化试验箱

供应多层线路板PCT高压加速老化试验箱

【仪器用途】

   高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间.

规格参数：

型号 PCT-25 PCT-35 PCT-45 PCT-55

内箱尺寸(cm)：Φ25×D35  Φ30×D45  Φ40×D55  Φ50×D60

外箱尺寸(cm)：W56×H65×D105  W66×H105×D105  W76×H115×D105  W86×H135×D145  

控制系统：微电脑饱和蒸气湿度+时间+压力显示独立控制器

温度范围：100℃-132℃可任意设定（143℃为特殊订制）

湿度范围：100％RH饱和蒸气湿度

使用蒸气压力：0.0kg/㎝?-4.00kg/㎝?绝对压力；（绝对压力：安全压力容量4kg/㎝?/G=1个环境大气压+3kg/㎝?）

解析度：温度：0.1压力；指针式0.1

控制稳定度：温度：±0.5℃，湿度：100％

内箱材质：SUS316#不锈钢

外箱材质：高级钢板烤漆

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