CS-4型号 4寸手动探针台 芯片测试 半导体测试探针台
产品介绍
CS系列探针台造型小巧，测量精度高，操作方便，符合人机工程学。主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。
4寸手动探针台
适合4英寸以内样品测试
体积小巧，可作为手套箱内探针台
产品参数
| | | | |
| 是否有现货： | 是 | 品牌： | cindbest |
| 加工定制： | 是 | 测量范围： | 100FA-10A |
| 尺寸： | 400*400mm | 电池种类： | 没电池 |
| 测量精度： | 100fA | 电源电压： | 220V |
| 用途： | 半导体产品电学参数测试 | 型号： | CS系列 |
| 规格： | 4英寸标准探针台 | 商标： | cindbest |
| 包装： | 木箱 | | |
技术参数
| 规格 | ||
| Chuck（可选） | 4" 或6" 不锈钢，真空吸附型，独立开关控制 | |
| Chuck X-Y轴行程，精度 | 4" x4"，10um | |
| Chuck 旋转角度 | 0~360 度 | |
| Chuck 旋转角度微调精度 | 0.01° | |
| Chuck快速升降（选配） | 4mm | |
| Chuck微调升降（选配） | 4mm ，1um精度 | |
| Chuck 平整度 | 5um | |
| 针座平台 | C型设计，可放置8个BT 型针座，可扩展为O型平台 | |
| 针座平台平整度 | 5 um | |
| 显微镜Z轴行程，精度 | 2"，细调精度0.1um | |
| 需求 | ||
| 电力 | 220 VAC, 60Hz | |
| | ||
| 真空 | -250 mmHg, 7 liter/min | |
| | ||
| 尺寸 | ||
| 320mm宽*320mm长*400mm高（带显微镜） | ||
| 重 20 Kg（带显微镜） | ||
| 可选附件 | ||
| 激光切割 | ||
| 加热台 | ||
| 防震桌 | ||
| 显微镜暗场 / DIC/Normarski 检测 | ||
| 光强/波长测试接口部件 | ||
| 射频测试探头和线缆 | ||
| 有源探头 | ||
| 低电流/电容测试 | ||
| 高压测试 | ||
| CCD视频系统 | ||
| 液晶漏电分析套装 | ||
| 黑箱子 | ||
| 镀金Chuck | ||
性能特点
-
CS探针台能够胜任的测试有：
| 序号 | 根据测试样品分类 | | 序号 | 根据应用分类 |
| 1 | 晶圆测试 | | 1 | 射频测试 |
| 2 | LED测试 | | 2 | 高温环境测试 |
| 3 | 功率器件测试 | | 3 | 低电流（100fA 级）测试 |
| 4 | MEMS测试 | | 4 | I-v/c-v/p-iv测试 |
| 5 | PCB测试 | | 5 | 高压，大电流测试 |
| 6 | 液晶面板测试 | | 6 | 磁场环境测试 |
| 7 | 太阳能电池片测试 | | 7 | 辐射环境测试 |
| 8 | 材料表面电阻率测试 | | 9 | 积分球测试 |
使用说明
-
将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。
-
使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。
-
使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。
-
显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。
-
待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，最后则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。
-
确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。
产品实拍图
(深圳市CS-4型号 4寸手动探针台厂家)
CS-4型号 4寸手动探针台 芯片测试 半导体测试探针台
CS-4型号 4寸手动探针台 芯片测试 半导体测试探针台
面议
供应手动探针台
面议
供应手动探针台价格
面议
手动探针台的工作原理
￥ 40,000.00
供应XH-MP150A手动探针台
￥ 1.00
供应手动探针台国产
面议
手动探针台探针测试探针设备
面议
手动小型高低温探针台
面议
深圳cindbest手动探针台厂家直销价
￥ 40,000.00